Il microscopio elettronico di trasmissione (TEM) funziona con un fascio di elettroni, che osserva campioni molto sottili (~150 nm). Gli elettroni vengono messi a fuoco da una lente elettromagnetica e l'immagine viene osservata su uno schermo fluorescente, su una lastra fotografica o per mezzo di una telecamera CCD.
Gli elettroni sono accelerati da un potenziale dell'ordine di centinaia di KV e hanno lunghezze d'onda di circa 0,2 nm, molto più piccole di quelle di un fotone (~ 400 nm).
Il potere di risoluzione, dello stesso ordine della lunghezza d'onda della radiazione incidente, è limitato dalle aberrazioni delle lenti elettromagnetiche.
Utilizziamo la Microscopia Elettronica di Trasmissione (TEM) per caratterizzare i materiali e abbiamo seguito l'evoluzione della performance di questa tecnologia.
Attualmente, la nostra attrezzatura tecnica è costituita da JEOL 3200FS-HR a 300 kV TEM, dotata di:
Combina immagini ad alta risoluzione e 0 perdita con prestazioni analitiche: le immagini possono essere registrate utilizzando una telecamera CCD da 2k x 2k. Lo strumento è utilizzato principalmente per studiare la microstruttura, le dislocazioni, la cristallografia e la chimica dei materiali (spettri, scansioni lineari, mappe).
Le caratteristiche del JEOL 3200FS-HR:
Analisi microstrutturale
Questo tipo di analisi permette di valutare quantitativamente gli effetti dei trattamenti termici e termo-meccanici sulla morfologia e la disposizione spaziale dei più significativi componenti nanostrutturali:
Analisi cristallografica
La conoscenza della cristallografia permette di identificare le fasi attraverso l'analisi dei modelli di diffrazione elettronica, interpretati utilizzando un software progettato da CSM (Centro Sviluppo Materiali).
Microscopia ad alta risoluzione
La modalità ad alta risoluzione ci permette di osservare la disposizione e la spaziatura dei piani atomici e di sottolineare i difetti del reticolo cristallino.
EFTEM - Energy-filtered Tem
Il sofisticato filtro elettromagnetico ci dà informazioni sulla composizione chimica degli elementi costitutivi della microstruttura.
Spettometro a dispersione energetica (XEDS)
Lo spettrometro dispersivo EDS (XEDS) effettua qualitativamente e quantitativamente l'analisi della composizione chimica di un punto specifico del campione con una risoluzione spaziale di alcuni nanometri.
Valutazione della distribuzione della dimensione delle particelle
Il software di analisi automatica delle immagini calcola i parametri geometrici delle particelle (area, diametro, fattore di forma, perimetro, ecc.) presenti in un campo specifico, che ci permette di eseguire diverse analisi statistiche.
Laboratorio di preparazione del campione
La preparazione dei campioni svolge un ruolo cruciale nel successo delle osservazioni TEM. Vi offriamo un'ampia esperienza nella preparazione di campioni non biologici, con particolare riguardo ai metalli e alle leghe.
